【英文标准名称】:StandardTestMethodsforAvalancheJunctionSemiconductorSurge-ProtectiveDeviceComponents
【原文标准名称】:雪崩接合半导体电涌保护装置元件标准试验方法
【标准号】:ANSI/IEEEC62.35-2010
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:2010
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国国家标准学会(US-ANSI)
【起草单位】:ANSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电气工程;半导体;规范;过电压保护;电压保护
【英文主题词】:Electricalengineering;Semiconductors;Specification;Surgeprotection;Voltageprotection
【摘要】:Thisstandardappliestotheavalanchebreakdowndiodesusedforsurgeprotectiononsystemswithvoltagesequaltoorlessthan1000Vrmsor1200Vdc.TheavalanchebreakdowndiodesurgesuppressorisasemiconductordiodewhichcanoperateineithertheforwardorreversedirectionofitsV-Icharacteristic.Thiscomponentisasinglepackage,whichmaybeassembledfromanycombinationofseriesand/orparalleldiodechips.
【中国标准分类号】:K46
【国际标准分类号】:29_120_50
【页数】:
【正文语种】:英语