基本信息
| 标准名称： | 半导体器件用散热器在自然空气冷却状态下的热阻测试方法 |
| 英文名称： | Thermal resistance measurements of sinks for semiconductor devices under natural air cooling conditions |
| 中标分类： | 电子元器件与信息技术 >> 半导体分立器件 >> 半导体分立器件综合 |
| 发布日期： | 1977-12-26 |
| 实施日期： | 1978-01-01 |
| 首发日期： | |
| 作废日期： | 2010-01-20 |
| 出版日期： | |
| 页数： | 4页 |
适用范围
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前言
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目录
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引用标准
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所属分类： 电子元器件与信息技术 半导体分立器件 半导体分立器件综合